日本napson手持式薄層電阻測量儀

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產(chǎn)品名稱: 日本napson手持式薄層電阻測量儀

產(chǎn)品型號(hào): DUORES

產(chǎn)品特點(diǎn): 日本napson手持式薄層電阻測量儀
便于攜帶和測量的手持式薄層電阻測量裝置：DUORES
根據(jù)測量目標(biāo)更換和使用兩種類型的探頭（無損型和接觸型）。

日本napson手持式薄層電阻測量儀 的詳細(xì)介紹

日本napson手持式薄層電阻測量儀

•*①臺(tái)可以替換和使用兩種類型的探頭（無損型和接觸型）的便攜式薄層電阻測量裝置 •
只需放置/應(yīng)用探頭即可自動(dòng)進(jìn)行測量
•電池連續(xù)工作時(shí)間：24小時(shí)（*電池）使用時(shí)）
•顯示的數(shù)據(jù)數(shù)量：多100（*從醉新數(shù)據(jù)顯示）

•存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)數(shù)量：多50,000（*軟件顯示屏）
•測量數(shù)據(jù)傳輸功能：USB-Mini
•顯示：3種類型的顯示單元（Ω/□，S /□，n / m [金屬膜厚度轉(zhuǎn)換]）， 4位浮點(diǎn)少數(shù)點(diǎn)（0.000至9999）

*我們僅出售主體+非破壞性探頭，并且僅出售主體+接觸探頭。

測量規(guī)格

測量目標(biāo)

薄膜，玻璃，紙材料等
通常，可以在測量范圍內(nèi)測量任何樣品。
•薄膜材料（ITO，TCO等）
•低電子玻璃
•碳納米管，石墨烯材料
•金屬材料（納米線，網(wǎng)格，網(wǎng)眼）
•其他

測量尺寸

不論尺寸和厚度如何均可測量
（*大于每個(gè)探頭的測量點(diǎn)尺寸）

<測量點(diǎn)>

?無損探棒（渦電流型）：φ25mm

?接觸式探頭（4種探頭類型）：9毫米

測量范圍

?無損探棒（渦電流法）：0.5 -200Ω/ sq
?接觸探棒（4探法）：0.1 -4000Ω/ sq

•世界上第①臺(tái)可以替換和使用兩種類型的探頭（無損型和接觸型）的便攜式薄層電阻測量裝置 •
只需放置/應(yīng)用探頭即可自動(dòng)進(jìn)行測量
•電池連續(xù)工作時(shí)間：24小時(shí)（*電池）使用時(shí)）
•顯示的數(shù)據(jù)數(shù)量：多100（*從醉新數(shù)據(jù)顯示）

•存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)數(shù)量：多50,000（*軟件顯示屏）
•測量數(shù)據(jù)傳輸功能：USB-Mini
•顯示：3種類型的顯示單元（Ω/□，S /□，n / m [金屬膜厚度轉(zhuǎn)換]）， 4位浮點(diǎn)少數(shù)點(diǎn)（0.000至9999）

*我們僅出售主體+非破壞性探頭，并且僅出售主體+接觸探頭。