非接觸式 3D 測量系統Modular Optical Pen DUO工作原理分析

從光源發出的光被測量對象、參考板（參考平面）等反射。此時，兩束反射光之間會產生光程差。如圖所示，將參考板插入待測物體前，使其盡量靠近，當光程差進入相干長度時，兩束反射光就會發生干涉。由于這種干涉的光譜強度受波長調制，因此可以通過同軸顏色校正光學筆對其進行測量和分析，從而實現更精確的厚度測量。

產品檢測優勢

1.實現更精確的表面形狀測量，更寬的測量范圍
除了以前型號中使用的測量方法（“共焦彩色模式"）外，還安裝了一種新的“干涉測量模式"?，F在可以處理更精確的表面形狀測量。兩種模式均可根據需要的測量精度使用，擴展了應用范圍。

2.模式控制器
該控制器可用于共焦/彩色模式和干涉測量模式。與之前的型號一樣，系統配置簡單易用，只需根據所需的測量精度更換筆形模塊即可。